1.问：Cpk、Ppk有什么区别？
答：Cpk指的是修正的过程能力指数，它适用于任何过程，利用估计的 Sigma计算出来的，用于测度一个系统适合客户需要的潜在能力，一般用它分析一个系统的自然倾向。Ppk指的是修正的过程性能指数，利用的是由所有样本计算出来的Sigma来计算的，用于测度一个系统适合客户需要的执行情况或性能，一般用它分析过程的实际性能。

2.问：为什么有时数据在控制图上分布正常（过程受控）,但据此计算的过程能力指数如 Cp/Cpk值很小，有时数据在控制图上分布异常（过程波动很大），但据此计算的过程能力指数如Cp/Cpk值很大？
答：首先要明确 Cp/Cpk的计算公式，从公式可以知道Cp/Cpk的大小与该质量特性的规格宽度、过程波动大小、过程偏移大小（偏移系统K）有关，如果数据在控制图上分布正常（过程受控），但据此计算的过程能力指数如 Cp/Cpk值很小，可能是规格宽度给定的比较小造成的，而数据在控制图上分布异常（过程波动很大），但据此计算的过程能力指数如 Cp/Cpk值很大，可能是规格宽度给定的比较大的结果。
3.问：为什么客户要求我们的制程Cpk值>1.33,有些要求>1.67,而不是1.3或1.5?
答：因为客户要求你们达到一定的质量水平,如1.33对应为4 质量水平,1.67对应为5 质量水平。
4.问：对R、S、P、U控制图，低于控制中心线的点出现链状趋势算不算失控？
答：点出现了非随机的排列是一种异常情况，对于这种异常情况，首先要查明是否是计算、描点有误，或测量系统改变等造成，如果无前面的情况，应调查是什么因素改变了，因为这是一种好状态，应研究以便推广应用和改进过程，然后再收集数据，重新做控制图进行分析监控。
5.问：控制规则对计数值控制图是否适用？
答：控制规则对计数值控制图同样适用。
6.问：如何判断过程是否服从正态分布？
答：常用的直观方法是直方图，也可精确算出对称度与峰度，当他们都为零时满足正态分布。概率上正态性检验还可用正态概率纸、卡方检验、D检验、W检验等方法进行判断。
7.问：工厂中常见的过程是否都服从正态分布，是否都可以采用控制图进行监控？
答：在生产过程中，随机因素的影响由许多微小因素叠加而成，如厂房气温的微小变化，测试仪器的微小误差，操作人员心理上或生理上的变化，都会造成产品质量的波动，但只要生产过程只受随机因素的影响，则产品质量的波动一般服从正态分布。另外根据中心极限定理，在一般意义上无论产品或服务质量水平的总体分布是什么，其分布（每个都是从总体的一个抽样的均值）在当样本容量逐渐增大时将趋向于正态分布，所以一般都可以采用控制图进行监控与分析。
8.问：对于控制图，如何确定抽样频率？
答：样本子组的选择原则为“尽量使每一个子组中的数据具有最大的相同的机会，同时尽量让不同子组的数据具有最大的不同的机会”，根据以上原则，样本可按如下方法来抽取：根据所怀疑的变差原因来抽取样本；按同等的数量间隔来抽取；按同样的时间间隔来抽取。
9.问：直方图分组数是根据什么确定的？
答：没有一个标准规定，分组数据经验上是根据样本数开平方左右，如抽144个样本分为12组比较合适。
10.问：对计量型控制图，分析时先分析R图还是X图？
答：由于无论解释子组极差或子组均值都取决于零件间的变差，因此首先分析R图。当极差受统计控制时，则认为过程的分布宽度---子组内的变差是稳定的，然后应对均值图进行分析，观察期间过程的位置是否改变。